|
อายุการใช้งานที่ประหยัดที่สุดของอุปกรณ์การทดสอบ IC : กรณีศึกษา /พัทธ์ธีรา รื่นพิทักษ์ |
|---|---|
| รหัสดีโอไอ | |
| Title | อายุการใช้งานที่ประหยัดที่สุดของอุปกรณ์การทดสอบ IC : กรณีศึกษา / |
| Creator | พัทธ์ธีรา รื่นพิทักษ์ |
| Publisher | มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์, |
| Publication Year | 2550 |
| Keyword | วงจรรวม |