พัทธ์ธีรา รื่นพิทักษ์. (2550) อายุการใช้งานที่ประหยัดที่สุดของอุปกรณ์การทดสอบ IC : กรณีศึกษา /. มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์,:ม.ป.ท.พัทธ์ธีรา รื่นพิทักษ์. 2550. อายุการใช้งานที่ประหยัดที่สุดของอุปกรณ์การทดสอบ IC : กรณีศึกษา /. ม.ป.ท.:มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์,;พัทธ์ธีรา รื่นพิทักษ์. อายุการใช้งานที่ประหยัดที่สุดของอุปกรณ์การทดสอบ IC : กรณีศึกษา /. ม.ป.ท.:มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์, 2550. Print.