|
การออกแบบแผนการทดสอบคุณสมบัติทางอิเล็กทรอนิกส์ของหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์เพื่อลดต้นทุนคุณภาพ |
|---|---|
| รหัสดีโอไอ | |
| Title | การออกแบบแผนการทดสอบคุณสมบัติทางอิเล็กทรอนิกส์ของหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์เพื่อลดต้นทุนคุณภาพ |
| Creator | วิสวัส เลิศวณิชกุล |
| Contributor | นภัสสวงศ์ โรจนโรวรรณ |
| Publisher | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย |
| Publication Year | 2556 |
| Keyword | ฮาร์ดดิสก์ -- การควบคุมคุณภาพ, ฮาร์ดดิสก์ -- การควบคุมต้นทุนการผลิต, Hard disks (Computer science) -- Quality control, Hard disks (Computer science) -- Cost control |
| Abstract | งานวิจัยนี้มีวัตถุประสงค์เพื่อนำเสนอการลดต้นทุนคุณภาพโดยรวมของบริษัทผลิตหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์ โดยการสร้างวิธีการทดสอบทางอิเล็กทรอนิกส์แบบใหม่ของหัวอ่านเขียนเพื่อใช้แทนการทดสอบทางอิเล็กทรอนิกส์แบบเดิม วิธีการทดสอบแบบใหม่ใช้เทคนิค Discriminant Analysis (DA) มาช่วยพยากรณ์ผลที่คาดว่าจะเกิดขึ้นจากการทดสอบแบบเดิมซึ่งมีผล 2 แบบคือ ผ่านและไม่ผ่าน หาก DA พยากรณ์ว่าหัวอ่านเขียนตัวนั้นจะมีผล “ผ่าน” การทดสอบ บริษัทจะไม่ทดสอบหัวอ่านเขียนตัวนั้น แต่หาก DA พยากรณ์ว่าหัวอ่านเขียนตัวนั้นจะ “ไม่ผ่าน” การทดสอบ บริษัทจะทดสอบหัวอ่านเขียนตัวนั้นตามปกติ วิธีการทดสอบแบบใหม่ซึ่งจะมีการข้ามการทดสอบหัวอ่านเขียนบางส่วน จะช่วยประหยัดต้นทุนในการตรวจสอบลงได้ แต่การข้ามการทดสอบจะทำให้มีต้นทุนเพิ่มขึ้นจากของเสียที่จะพบในกระบวนการถัดไป ผู้วิจัยจึงได้ศึกษารายการต้นทุนที่จะเปลี่ยนแปลงจากการใช้แผนการทดสอบแบบใหม่ และศึกษาว่าแผนการทดสอบแบบใหม่สามารถลดต้นทุนคุณภาพโดยรวมลงได้ ผลการศึกษาพบว่าการทดสอบทางอิเล็กทรอนิกส์แบบใหม่สามารถพยากรณ์ผลที่คาดว่าจะเกิดขึ้นได้ถูกต้องสูงถึง 90% และหากนำไปประยุกต์ใช้จริงในบริษัทต้นแบบ จะสามารถลดการใช้งานเครื่องทดสอบทางอิเล็กทรอนิกส์ลงได้ 20% อีกทั้งยังสามารถลดต้นทุนคุณภาพโดยรวมลงได้ 15,667,625 บาทต่อปี |
| URL Website | cuir.car.chula.ac.th |
