วิสวัส เลิศวณิชกุล และ นภัสสวงศ์ โรจนโรวรรณ. (2556) การออกแบบแผนการทดสอบคุณสมบัติทางอิเล็กทรอนิกส์ของหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์เพื่อลดต้นทุนคุณภาพ. จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย:ม.ป.ท.วิสวัส เลิศวณิชกุล และ นภัสสวงศ์ โรจนโรวรรณ. 2556. การออกแบบแผนการทดสอบคุณสมบัติทางอิเล็กทรอนิกส์ของหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์เพื่อลดต้นทุนคุณภาพ. ม.ป.ท.:จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย;วิสวัส เลิศวณิชกุล และ นภัสสวงศ์ โรจนโรวรรณ. การออกแบบแผนการทดสอบคุณสมบัติทางอิเล็กทรอนิกส์ของหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์เพื่อลดต้นทุนคุณภาพ. ม.ป.ท.:จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2556. Print.