|
แผนภูมิควบคุมรอยตำหนิสำหรับกระบวนการผลิตที่มีศูนย์มาก /วิลาสินี ปีระจิตร |
|---|---|
| รหัสดีโอไอ | |
| Title | แผนภูมิควบคุมรอยตำหนิสำหรับกระบวนการผลิตที่มีศูนย์มาก / |
| Creator | วิลาสินี ปีระจิตร |
| Publisher | มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ, |
| Publication Year | 2552 |
| Keyword | แผนภูมิควบคุมรอยตำหนิ, การแจกแจงปัวซองส์, ความน่าจะเป็นครอบคลุมเฉลี่ย, กระบวนการผลิตที่มีศูนย์มาก |
