|
เทคนิคการวิเคราะห์ผลผลิตด้านความบกพร่องของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์บนแผ่นซิลิคอน |
|---|---|
| รหัสดีโอไอ | |
| Title | เทคนิคการวิเคราะห์ผลผลิตด้านความบกพร่องของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์บนแผ่นซิลิคอน |
| Creator | วีระ เพ็งจันทร์ |
| Publisher | สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง |
| Publication Year | 2557 |
| Keyword | ความบกพร่องของซิลิคอน, เทคโนโลยีซีมอส, กระแสรั่วไหล |