|
ความสัมพันธ์ระหว่างมาตรวัดเชิงวัตถุจากแผนภาพคลาส และมาตรวัดเชิงวัตถุจากแผนภาพซีเควนซ์ |
|---|---|
| รหัสดีโอไอ | |
| Title | ความสัมพันธ์ระหว่างมาตรวัดเชิงวัตถุจากแผนภาพคลาส และมาตรวัดเชิงวัตถุจากแผนภาพซีเควนซ์ |
| Creator | ภักดิ์ธิดา ปานมา |
| Contributor | อัษฎาพร ทรัพย์สมบูรณ์ |
| Publisher | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย |
| Publication Year | 2556 |
| Keyword | ซอฟต์แวร์ -- การวัด, ซอฟต์แวร์ -- การควบคุมคุณภาพ, Software measurement, Computer software -- Quality control |
| Abstract | มาตรวัดมักถูกเป็นตัวชี้วัดคุณภาพของซอฟต์แวร์หลังจากที่ซอฟต์แวร์ถูกพัฒนาเสร็จ หากมาตรวัดสามารถวัดคุณภาพซอฟต์แวร์ได้ตั้งแต่ขั้นตอนการออกแบบซอฟต์แวร์ น่าจะช่วยสนับสนุนกระบวนการพัฒนาซอฟต์แวร์ให้ได้ซอฟต์แวร์ที่มีคุณภาพด้วย ในปัจจุบันมีนักวิจัยนำเสนอมาตรวัดเชิงวัตถุอยู่หลายมาตรวัดแต่ส่วนใหญ่เป็นการวัดคุณภาพซอฟต์แวร์จากซอร์สโค้ด งานวิจัยนี้จึงศึกษาถึงความสัมพันธ์ระหว่างมาตรวัดเชิงวัตถุจากแผนภาพที่ได้จากการออกแบบเชิงวัตถุที่สำคัญ ได้แก่ แผนภาพคลาสและซีเควนซ์ มาตรวัดที่ใช้วัดแผนภาพคลาสคือ มาตรวัดซีเคและเอ็มโอโอดี มาตรวัดที่ใช้วัดแผนภาพซีเควนซ์คือ มาตรวัดจากเครื่องมือสวอท คุณภาพซอฟต์แวร์ที่สนใจคือความสามารถในการบำรุงรักษาและความสามารถในการนำกลับมาใช้ใหม่การวิเคราะห์ความสัมพันธ์ระหว่างมาตรวัดพบว่า มาตรวัดคัพพลิงบีทวีนออบเจกต์คลาสมีความสัมพันธ์กับมาตรวัดเอเวอเรจยูสเสจออฟคลาสสิไฟเออร์ และมาตรวัดคัพพลิงบีทวีนออบเจกต์คลาสมีความสัมพันธ์กับมาตรวัดรีเคอริงซีเควนซ์ ดังนั้นแผนภาพซีเควนซ์จึงน่าจะสามารถชี้วัดคุณภาพซอฟต์แวร์ทั้งสองด้าน คือความสามารถในการบำรุงรักษา และความสามารถในการนำกลับมาใช้ใหม่ได้เช่นเดียวกับแผนภาพคลาส |
| URL Website | cuir.car.chula.ac.th |
