|
การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาพของซิลิกอนเจอเมเนียม สำหรับทรานซิสเตอร์แบบจุดและแกเลียมไนไตรด์ สำหรับไดโอดเลเซอร์ โดยใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน /ภัทรจิตร มั่นทรัพย์ |
|---|---|
| รหัสดีโอไอ | |
| Title | การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาพของซิลิกอนเจอเมเนียม สำหรับทรานซิสเตอร์แบบจุดและแกเลียมไนไตรด์ สำหรับไดโอดเลเซอร์ โดยใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน / |
| Creator | ภัทรจิตร มั่นทรัพย์ |
| Publisher | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, |
| Publication Year | 2547 |
| Keyword | ซิลิกอนเจอเมเนียม, จุลทรรศน์อิเล็กตรอน, ทรานซิสเตอร์, แกลเลียมไนไตรท์, ไอโอดเลเซอร์ |
| ISBN | 974-17-5947-19 |
