|
การศึกษาเชิงจุลทรรศน์ของสมบัติทางไฟฟ้าของวัสดุขั้นสูง (Microscopic study of electrical properties of advanced materials) |
|---|---|
| รหัสดีโอไอ | |
| Title | การศึกษาเชิงจุลทรรศน์ของสมบัติทางไฟฟ้าของวัสดุขั้นสูง (Microscopic study of electrical properties of advanced materials) |
| Creator | 1. สันติ แม้นศิริ 2. วรวัฒน์ มีวาสนา 3. สิริโชค จึงถาวรรณ |
| Contributor | หัวหน้าโครงการย่อย, ผู้ร่วมวิจัย, ผู้ร่วมวิจัย |
| Publisher | มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี |
| Publication Year | 2560 |
| Keyword | Near field microscopy (กล้องจุลทรรศน์แบบระยะใกล้); Oxide thin film (แผ่นฟิล์มบางออกไซด์); Dielectric constant (ค่าคงที่ไดอิเล็กทริก); Metal oxides (โลหะออกไซด์); กล้อง Scanning Microwave Microscope (จุลทรรศน์ไมโครเวฟแบบกวาด) |
